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蔡司x-ray探傷內部缺陷檢測機BOSELLO-OMNIA射線無損掃描
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 詳情說明
?X射線屬于一種電磁波,其波長較短,波長范圍在0.0006--80nm之間,這種電磁波具有很強的穿透能力,可以穿透不同密度的物質,并且對于一些可見光不能穿透的物品也具有良好的穿透性。

蔡司x-ray探傷內部缺陷檢測機BOSELLO-OMNIA射線無損掃描是利用一陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊,那么在撞擊的過程中,電子會進行突然的減速,因為減速導致的動能損失,會以x-ray的形式被釋放出來,其具有較短的波長,但是電磁輻射的能量很高。

對于一些無法通過外觀檢測到內部,或者對于無法到達檢測位置的物品,x-ray探傷內部缺陷檢測機具有很強的穿透能力,因為X-RAY穿透的物質密度不一樣,所以帶來的光強度也不一樣,那么x-ray檢測可以將這些不同的光強度形成相應的影像,如此一來就可以清晰的顯示出待測物品內部的結構情況,從而實現在不破化待檢物品的情況下,檢測出物品哪里出了問題。

蔡司X射線無損掃描檢測在工業領域的使用較為廣泛,主要有電子產品,電子元件,半導體元器件,接插件,塑膠件,BGA,LED,IC芯片,SMT,CPU,電熱絲,電容,集成電路,電路板,鋰電池,陶瓷,鑄件,醫療,食品等。









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